Уязвимости микропроцессорных реле защиты: проблемы и решения
Гуревич В.И.
В книге подробно рассмотрены проблемы уязвимости микропроцессорных устройств релейной защиты (МУРЗ) к естественным и преднамеренным деструктивным воздействиям, включающим кибернетические и электромагнитные воздействия. Описаны современные технические средства, с помощью которых могут осуществляться преднамеренные дистанционные деструктивные воздействия на МУРЗ. Рассмотрены как традиционные пассивные (экранированные шкафы, фильтры, кабели, специальные материалы и покрытия) средства защиты, так и новые, основанные на схемотехнических и аппаратных методах. Книга рассчитана на инженеров, занимающихся разработкой, проектированием и эксплуатацией релейной защиты, а также может быть полезна научным работникам, преподавателям, аспирантам и студентам соответствующих дисциплин средних и высших учебных заведений.
年:
2016
出版商:
Издательство "Инфра-Инженерия"
語言:
russian
頁數:
256
ISBN 10:
5972900777
ISBN 13:
9785972900770
文件:
PDF, 5.76 MB
IPFS:
,
russian, 2016