Физика нанокомпозитных материалов. Сканирующая зондовая...

Main
Физика нанокомпозитных материалов....

Физика нанокомпозитных материалов. Сканирующая зондовая микроскопия.

Габдуллин П.Г. и др.

0 / 0

你有多喜歡這本書？

文件的質量如何？

下載本書進行質量評估

下載文件的質量如何？

年:

2010

出版商:

Изд-во Политехн. ун-та

語言:

russian

文件:

PDF, 2.40 MB

IPFS:

,

russian, 2010

線上閱讀

轉換進行中

轉換為失敗

你可能感興趣

Миронов В. Л. — Основы сканирующей зондовой микроскопии

Миронов В.Л. — Основы сканирующей зондовой микроскопии

Кухаренко, Л. В. — Сканирующая зондовая микроскопия для анализа медико-биологических объектов

Тарасова Н. В. — Атомно-силовая микроскопия в материаловедении наносистем

Шабанов Ш. Ш., Кардашова Г. Д., Даллаева Д. С. — Сканирующая зондовая микроскопия для исследования керамических материалов: пособие к курсу лекций

Волкова Е. В., Забавичев И. Ю., Оболенский С. В. — Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии: Практикум

Авачёв А. П., Вишняков Н. В., Гололобов Г. П., Митрофанов К. В. — Методические пособия для проведения лабораторных работ по направлению «Наноматериалы»

Волкова Е. В., Забавичев И. Ю., Оболенский С. В. — Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии: Практикум

Шабанов Ш. Ш., Кардашова Г. Д., Даллаева Д. С. — Сканирующая зондовая микроскопия для исследования керамических материалов: пособие к курсу лекций

— МЕТОДЫ И ОБОРУДОВАНИЕ КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ПРОЦЕССОВ ПРОИЗВОДСТВА НАНОГЕТЕРОСТРУКТУР И НАНОГЕТЕРОСТРУКТУРНЫХ МОНОЛИТНЫХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ

Корнилов В. М., Галиев А.Ф.;рец.: Асфандиаров Н.Л., Рахмеев Р.Г. — Основы сканирующей зондовой микроскопии: метод. указания

Баранов А.В., Литвин А.П., Парфенов П.С., Ушакова Е.В. — Техника физического эксперимента в системах с пониженной размерностью. Часть 2. Лабораторный практикум

Корнилов В.М., Галиев А.Ф. — Основы сканирующей зондовой микроскопии

Смирнов С.В. — Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем

Смирнов С.В. — Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем

Усанов Д.А., Яфаров Р.К. — Исследование поверхности материалов методом сканирующей туннельной микроскопии

Усанов Д.А., Яфаров Р.К. — Исследование поверхности материалов методом сканирующей атомно-силовой микроскопии

Демиховский В.Я., Филатов Д.О. — Исследование электронных состояний в низкоразмерных структурах методами сканирующей зондовой микроскопии

Гусенко И.В. — Изучение методов сканирующей зондовой микроскопии

Габдуллин П.Г., Костюченко З.А., Поречная Н.И. — Физика нанокомпозитных материалов. Сканирующая зондовая микроскопия

Битюцкая Л.А. и др. (сост.) — Нанотехнологии в физике. Дистанционная лаборатория атомно-силовой микроскопии нанообъектов. Часть 1: Тестирование. Обработка и анализ изображения

Андреева Н.В., Габдуллин П.Г. — Физика и диагностика биомолекулярных систем. Исследования методами зондовой микроскопии

Булыгина Е.В., Макарчук В.В. и др. — Наноразмерные структуры: классификация, формирование и исследование

Круглов А.В., Голубок А.О. — Сканирующая зондовая, спектроскопия и литография

Булыгина Е.В., Макарчук В.В., Панфилов Ю.В., Оя Д.Р., Шахнов В.А. — Наноразмерные структуры: классификация, формирование и исследование

Федоров А.В., Баранов А.В., Литвин А.П., Черевков С.А. — Специальные методы измерения физических величин

coll. — Методы получения и исследования нанопорошков

Кривелевич С. А., Насонова М. О., Яросл. гос. ун-т им. П. Г. Демидова — Сканирующая туннельная микроскопия (80,00 руб.)

Коллектив авторов — Сергеев, В. А. Исследование микро- и наноструктур методами сканирующей зондовой микроскопии. В 2 ч. Ч. 1. : методические указания к лабораторным работам

Коллектив авторов — Исследование микро- и наноструктур методами сканирующей зондовой микроскопии. В 2 ч. Ч. 1 : лабораторный практикум

Г. Бинниг, Г. Рорер — Сканирующая туннельная микроскопия - от рождения к юности

Миронов В. Л. — Основы сканирующей зондовой микроскопии

Методичка. — Исследование наноматериалов с помошчью сканируюшчей зондовой микроскопии

Физический факультет МГУ им. М.В. Ломоносова — Современные достижения бионаноскопии: Сборник тезисов Второй международной конференции (Москва, 17-18 июня 2008 г.)

Филатов Д.О., Круглов А.В. — Исследование поверхности твердых тел методом сканирующей туннельной микроскопии (СТМ). Описание лабораторной работы

最常見的術語

сканирования

поверхности

микроскопа

изображения

кантилевера

образцом

микроскопия

туннельного

значения

микроскоп

напряжения

расстояние

управления

постоянной

взаимодействия

изображение

поверхностью

сканирующая

фильтрации

величины

взаимодействие

вычисляется